Thermo Fisher Scientific
Helios 5 UX
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2022-04-18
1,571,516,450원
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 200,000원
주사전자현미경(SEM)에 이온 가공(밀링 또는 증착) 기능이 추가된 집속이온빔(FIB, Focused Ion Beam) 장비임.
갈륨(Ga)을 가속시켜 분석대상영역(ROI)을 국부적/선택적으로 가공하여 단면 또는 표면에 대하여 미세구조 분석, 성분분석, 결정학적 특성분석을 수행함.
○ Schottky thermal field emitter type SEM electron optics
○ Ga liquid metal ion source FIB ion beam optics
○ Gas injection system for etching and deposition: W, C, Pt
○ EDS on FIB System
○ 3D reconstruction software for FIB, EDS, EBSD
○ in-situ systems : Ar polishing system, High vacuum heating stage, Nano patterning tool, Cryo stage