STAr Technologies
AARTS RF18000-8
9년
주장비
시험
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 달리 분류되지 않는 측정시험장비
2022-02-13
496,803,840원
기관의뢰
고정형
시간별
10,000원
- 반도체 소자의 고온 동작시험용 장비
- WBG 반도체(SiC, GaN)의 고온 신뢰성 시험 : Si 계열 반도체의 상한온도 150 ℃보다 높은 시험장비 필요
- 고온 동작에 의한 신뢰성 열화를 검증하기 위한 장비
- 일정한 반도체 접합온도(junction temperature)가 되도록 소모전력 또는 히터의 온도 능동 제어
- Independent temp control 50 ℃ ~ 250 ℃
- RF power frequency : 2 GHz ~ 18 GHz
- DC power control : ~ 4 A