○ 본 장비는 실험실에 설치하기 용이한 가볍고 compact한 size의 Benchtop 형태의 제품임. (크기: 620(W) x 722(H) x 460(D) mm, 무게: 80 kg)
○ 본 장비는 동급 최대 출력의 600W X-ray 발생 장치 (Cu source)를 통해 나노 결정 및 박막에 대한 구조 해석이 가능함.
○ 본 장비는 정밀 측정을 위해 동급 최장 반경과 면적의 고니오미터와 다채널 반도체 검출기가 내장되어 있음. (고니오미터 반경: 150mm, 반도체 검출기 검출 면적 256 mm2)
○ 자동 시료 교환기를 통해 최대 8개의 시료를 장착할 수 있으며, 최신 측정 및 분석용 소프트웨어가 제공되어 신규 세라믹 소재의 효율적인 탐색과 정밀 분석이 가능함.
○ 추가적으로 이 장비의 경우 고온에서의 결정 구조 변화에 대한 in-situ 측정이 가능한 고온 시료 가열기와 시료의 산화를 방지할 수 있는 air-sensitivie 샘플 홀더를 설치할 수 있기 때문에 첨단 세라믹스의 특성을 분석하기 용이함.