Bruker
DXT-A
11년
주장비
계측
물리적 측정장비 > 표면특성측정장비 > 표면거칠기/미세구조측정장비
2021-11-23
60,219,420원
기관의뢰 직접사용
고정형
시간별
60,000원
◯ 샘플의 크기는 지름이 최대 150mm 인 원형까지 가능함. 위 장비는 보다 향상된 기능을 제공하여 공정 개발이나 자연과학, 태양광 제조,반도체 개발, MEMS, 광학소자 그리고 기타 산업전반에 필요한 표면의 분석/측정에 사용됨.
◯ 시스템은 6인치 웨이퍼의 사용을 위하여 150mm의 스캔(측정) 길이와 1 Angstrom 의 분해능 사양을 갖고 0.5mg의 Stylus림을 포함한 다양한 측정속도를 선택 가능.
◯ 일반적 성능
- 스캔(측정)거리 :≧ 150mm ( 이어붙이는 기능 없이)
- 측정 속도 : 2um to 25mm / sec
- 측정 검출 횟수 : ≧ 2,000Hz
- 단차 측정 분해능 : ≦ 1 Angstrom / 6.5um range
- 탐침 측정 힘 : ≦ 0.5mg
- 최대 단차 측정 영역 : ≧ 327um
◯ 측정 재연성
- 단차 반복 측정 재연성 (1 Sigma)
: ≦ 0.4nm @ ≦ 10,000 Angstrom ( 10회 반복 측정)
: ≦ 0.1% @ ≧ 10,000 Angstrom 영역 경우
◯ 측정 시료 측정 조건
- 스테이지 모터 움직임 : ≧ 150mm 지름 원형 (Diameter)
- 스테이지 회전 각도 : ≧ 360 degree
- 최대 측정 가능 시료 두께 : ≧ 20mm
- 최대 측정 시료 무게 : ≧ 1 Kg
◯ 기울기 조정
자동 데이터 기울기 조정
소프트웨어조정으로 기울기 조정 가능
◯ 데이터 분석/ 출력
- 데이터 출력 : 측정 파일 출력, 거칠기, 데이터 취합
- 자동 스테이지 기울기 조정 가능