Rigaku
ZSX Primus4
10년
주장비
분석
화합물 전처리·분석장비 > 분광분석장비 > X-선형광분석기
2022-01-11
270,950,000원
기관의뢰
고정형
건별
40,000원
시료 조성 분석 평가는 제품연구 과정에서 매우 필요함. 특히 도입하고자 하는 파장분산형 X선 형광분석기(Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer) 는 높은 Peak 분해능과 B ~ U까지 모든 원소에 대하여 매우 간단하게 정성 및 정량 분석이 가능하며 미량 시료, 박막 및 다양한 시료에 대하여 유효한 분석이 가능하며 더욱 신뢰도 있는 분석결과를 취득할 수 있는 장비임.
○ RF Frequency : 40MHz
○ Type : Free running
○ Plasma tail removal : Air
○ Resolution : ≤ 0.006 nm
at 200nm
○ Wavelength range :
167 – 782 nm
○ RF Power : 1,000 – 1,500,
1W Adjust
○ Power efficiency : > 79%
with < 0.1% variation
○ Peristaltic Pump : 4 channels
○ Optical System : Echelle
○ Focal Length : 400 mm
○ Plasma viewing :
Vertically Dual
○ Detector : Two SCD
○ Library : ≤ 50,000 lines