Thermo Fisher Scientific
Helios 5 UC
10년
주장비
시험
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2021-11-05
1,250,483,722원
기관의뢰
고정형
시간별
200,000원
디지털화된 고해상도 전계방출 주사전자현미경과 집속이온빔 기술을 활용한 이온빔이 장착된 Dual Beam 전자현미경 시스템이다. 전계방출 주사전자현미경은 unicolor 기술이 적용된 Sub-nano 수준의 해상도를 활용하여 빔에 취약한 샘플 등에 대하여 고해상도 분석이 가능하며, 이온빔 장치와 결합하여 매우 고 품질의 투과전자현미경 시료 제작 및 2D, 3D 분석이 가능하다.
· Landing voltage
- 20 V – 30 kV SEM
- 500 V – 30 kV FIB
· SEM resolution
- Optimal WD 0.6 nm @ 2–15 kV
0.7 nm @ 1 kV
1.5 nm @ 200 V with beam decleration
- Coincident WD 0.8 nm @ 15 kV
1.2 nm @ 1 kV
· FIB resolution coincident WD
- 4.0 nm @ 30 kV using preferred statistical method
- 2.5 nm @ 30 kV using selective edge method
·WDS Energy Range : 150 eV ~ 10 keV