Panalytical
Empyrean
10년
주장비
분석
화합물 전처리·분석장비 > 분광분석장비 > X-선회절분석기
2021-09-15
282,941,800원
기관의뢰
고정형
건별
70,000원
가속된 전자빔을 시료에 조사할때 표면에서 발생되어 나오는 2차전자, 후방산란 전자를 수집하여 그 신호들을 영상화시켜 관찰이 가능하게 한 표면 분석장비. 각 시료별 특성 X-선을 방출하게 되는데, 이 특성X선의 에너지 값을 분류하여 시료의 화학조성에 대한 정성 및 정량분석 가능
1. X-선 발생장치
1) 최대 출력 : 4kW 또는 그 이상
2) X-선 튜브타입 : Sealed 또는 Rotating target
3) 안전 장치
2. 고정밀 고니오미터
1) 기하 구조 : 시료 수평형 쎄타(θ)-쎄타(θ) 구조
2) 고미오미터 반경 : 240mm 또는 그 이상
3) 구동 방식 : 서보 모터에 의한 구동 또는 스텝핑 모터에 의한 구동
4) 최소 구동 단위 : 0.0001° 또는 그 이하
5) 광학계 자동 인식
- 모든 광학계를 센서에 의해 자동 인식하고, 제어 PC에 현재 상태를 표시함.
3. 시료 장착대
1) 시료 수평형 반사-투과측정 샘플 장착대
- 시료 회전 기능 포함
2) 자동 시료 교체기
- 최대 시료 개수 : 45 개 또는 그 이상
3) 높이 조절가능 배터리셀 거치용 시료대
4) 배터리 파우치셀 투과실험용 시료거치대
5) 고온 실험용 시료대
- 최대온도 : 1,200도 또는 그 이상
- 압력범위 : 10-4mbar to 1 bar rel. 또는 그 이상
- 2θ스캔범위 : 0 ~ 165도 또는 그 이상
- 직경 : 150mm 또는 그 이하
- 세라믹 샘플컵 깊이 : 0.8mm 또는 그 이하
- 열팽창에 따른 시료높이를 보정해줄 수 있는 자동 높이 보정 타입
4. 입사빔 광학계
1) Cu 튜브용 평행빔 다층막 광학 거울
2) Cu 튜브용 집속빔 광학 거울
3) 입사부 솔러 슬릿 : 0.04 & 0.02 라디안(Radian) 또는 그 이하
5. 회절빔 광학계
1) 평행빔 콜리메이터 : 0.28 & 0.11 도(degree) 또는 그 이하
2) 수광부 솔러 슬릿 : 0.04 & 0.02 라디안(Radian) 또는 그 이하
3) 산란 방지 슬릿
6. 검출기
1) 0차원 & 1차원 반도체 검출기
- 픽셀개수 : 256 개 또는 그 이상
- 픽셀분해능 : 75um 또는 그 이하
- 최대 검출 능력 : 2.5 x 108 CPS 또는 그 이상