1. 대기비노출 시스템 구축
1) Glove box 내 저항측정 현미경 설치(in situ 분석)
2) Air, gases 등 환경 영향 방지 및 노이즈 최소화
2. PeakForce Tapping(QI) mode를 통한 빠른 속도 및 초고해상도 표면 이미징
1) 고해상도, 고속 및 대면적 scanning(150 lines/sec / 100μm scan 영역) 가능
2) Air, gases, fluids 등 환경에 따른 제약 조건 없이 분석 가능
3. Conductive AFM 모듈
1) 소재의 저항, 전류, 유전율, 전도성 등 전기적 특성 분석 가능
2) 고해상도 시료 표면 형상(기계적 특성) 및 저항 동시 측정(전기적 특성) 가능
3) Bias Voltage +/-10V, Current Range: +/- 100nA
4. 힘-지도화(Force-mapping) mode
1) 나노미터 수준의 공간 해상도를 기반으로 X-Y 평면 상 힘-거리 곡선을 관찰하며 표적 분자의 분포를 단일 분자 수준으로 고해상도 지도화 가능