Sentech
SER800-500
9년
주장비
계측
광학·전자 영상장비 > 광파발생/측정장비 > 타원계
2021-07-19
181,526,860원
기관의뢰
고정형
건별
50,000원
○ 디스플레이, 반도체, FPD, LED, Solar Cell등의 부품소재에 사용되는 박막의 굴절률을 측정하기 위한 장비로서
광학적인 방법으로 측정할 수 있는 수 Å ~ 수 ㎛ 두께 범위의 단층 및 다층 박막의 두께, 굴절률을 측정하는 장비
○ 다양해지는 박막 및 그 특성이 실제 제품의 민감한 특성에 영향을 미치는 부분이 크므로 비접촉 측정이 가능
○ 2세대급(370x470㎟) OLED 패널 일괄공정 개발지원을 대응
○ 디스플레이, 반도체 및 각 투명 박막 분야의 분석 및 연구 개발에 필수 장비이며 다양한 형태의 OLED 소자 및
유기증착 박막 특성 평가를 지원
1. 엘립소미터 장비구성
- Light Source
- Polarizer Module
- Controls and Electronics Module
- Analyzer Module
- Software
- PC System
- Spectrometer System
- Auto-Mapping Stage (500 ㎜ X 500 ㎜)
- Auto Z-Axis
- Auto Alignment
- Sample Stage (500 ㎜ X 500 ㎜)
- Calibration sample
2. 장비성능
- Light source : Combined Deuterium(복합중수소)/텅스텐 할로겐 램프
파장범위 240 nm ~ 1,000 nm
- Polarizer Module(편광자 모듈)
Beam Deviation(빔 편차) : 3 arc minutes or less
- Spectrometer(분광계)
파장범위 245 nm ~ 880 nm (CCD Type)
Resolution : 0.45 nm per pixel
- Auto-Mapping Stage
X-Y Auto Mapping system
500 ㎜ X 500 ㎜
Auto 2D, 3D Mapping Software
Automatic Control
- Angle : Fixed angle of incidence 70 deg
- 소프트웨어
Operation & Analysis Software
측정결과/상태/오류이력/표시
Initialization, Calibration, Measurement
다층 모델링
- PC System
- Reference sample(100 nm SiO2)