프로브스
TT2-AFM-KP
5년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경
2020-12-17
241,428,170원
기관의뢰
고정형
건별
100,000원
금속 팁을 사용해 광전자의 방출 및 접촉표면 전위 차이를 측정해 소재의 일함수 값을 확인할 수 있으며, 이를 통해 페르미 레벨 근처의 Density of State를 확인할 수 있다. 또한 팁의 프로빙 및 접촉을 통해 마이크로/나노 스케일의 아주 작은 국소 영역의 전기, 자기 특성 등을 측정하거나 힘을 가해 표면 변화 및 소재와의 나노스케일 영역의 상호작용을 통해 물리적 특성 측정을 하는 시스템
1) 스테이지 : XY 구동 : 각 최대 25mm 구동, 2um resolution 정밀구동
2) 대면적 스캐너 : 50um X 50um X 17um(Z)
3) 라이트 레버 헤드
4) 줌 광학현미경 : 최대 400배, 2 micron resolution
5) 300만 화소 디지털 카메라
6) 컨트롤러
7) Conductive Mapping : Pre-Amplifier low/med/high
8) Dunk and scan for liquid cell : Dimension: 1.25“(dia.) x 0.33”(h)
9) Advanced F vs D curve : feedback and non-feedback modes
10) Image logger : Multi Channel measurement
11) Dual all in one 컴퓨터
12) 재진시스템