Bruker
Dimension Edge AFM
10년
주장비
분석
전기·전자장비 > 분석장비 > 스펙트럼분석기
2020-12-21
472,000,000원
기관의뢰
고정형
건별
30,000원
주사탐침기술(scanning probe technique)과 분광기술을 융합하여 구현한 측정장비로서 주사탐침방식으로 시료의 표면 형상, 조도, 전기적, 자기적 특성 분석이 가능하고, 3. 외부 에너지에 반응하는 물질의 분자특성을 검출하여 분자구조를 해석할 수 있음. 광원(325nm, 532nm laser)의 여기에 의한 발광 분석이 가능함
- CCD & InGaAs Detector
- Wavelength range: (300~1,700)nm
- 532 nm laser source
- AFM, LFM, PFM, EFM mode
- Sample stage diameter: 150 mm