Agilent Technologies
7900 ICP-MS
11년
주장비
분석
화합물 전처리·분석장비 > 질량분석장비 > 달리 분류되지 않는 질량분석장비
2019-10-14
281,634,720원
기관의뢰
고정형
건별
50,000원
ICP-MS란 Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer의 약자로서 “유도결합 플라즈마 질량분석기”라는 뜻을 가지고 있다. 즉, 기존의 ICP-MS의 한 개의 사중극자에서 분석하고자 하는 원소만 걸러내어 이온화된 1가 양이온만을 분석하여 보다 낮은 농도의 정성 및 정량분석이 가능한 고(高)기능의 분석기기이다. 아르곤(Ar) 플라즈마로 이온화가 어려운 불활성 기체 원소를 제외한 대부분의 무기원소에 대해 극미량 분석이 가능하며, 시료 상태는 액체 시료가 주로 사용되며, 각 원소의 이온을 질량필터를 거쳐 목적으로 하는 원소의 이온을 측정한다.
◦ 시료도입부
- 펌프 : 10롤러 연속흐름 가능
- 분무기 : 저 유량 유리 동심형 분무기
- 스프레이 챔버 : 석영, 저용량, 스콧 타입 이중-통로 스프레이 챔버, 온도 조절 가능
◦ 레이저구동부
- 주파수 : 213nm Q-switched Nd:YAG laser
- 에너지원 펄스 : 4 mJ 이상
- 펄스 폭 : 5 ns 미만
- 펄스 간 간격 : 3% 미만
◦ 이온 렌즈 및 시료 인터페이스
- 시료 콘 : 1.0 mm 직경 오리피스, 구리 기반의 니켈 끝 처리
- 스키머 콘 : 0.45 mm직경 오리피스, 니켈
◦ 쉴드 토치
- 토치 : 2.5 mm 내경 인젝터를 가진 단일형 토치
- 토치 위치 : 3축(횡축, 종축 그리고 시료 깊이축)에 의해 조절
◦ 방해이온 제거 시스템 : 충돌과 반응 셀 기술
- 팔중극자 반응 시스템, 표준 헬륨 모드
◦ 사중극자 질량 분석기
- 질량 범위 : 2 ~ 260 amu
- 질량 스캔 속도 : 56.6 million amu/s
- 자석 스캔 속도 : 0.1 to 1000 sec/decade
- 스캔 속도 : > 3000 amu/s
◦ 검출기 : 직각 검출 시스템 (ODS)
- 최소 머무름 시간 : 100 μs
- 동적직선범위 : 0.1 cps에서 10 Gcps로 증폭되는 11오더
- 감도(가스 모드 미적용) : Li(7) 55 Mcps/ppm 이상
Y(89) 320 Mcps/ppm 이상
Tl(205) 250 Mcps/ppm 이상
- 산소 비율 : CeO/Ce (HMI-25) <0.5 %
- 2차 하전 비율 : Ce2+/Ce < 3 %
- 비 가스 모드 검출 한계 : Be(9) 0.2 ppt 이하
In(115) 0.05 ppt 이하
Bi(209) 0.08 ppt 이하
- 헬륨 모드 검출 한계 : As (75) 20 ppt 이하
Se (78) : 40 ppt 이하
◦ 시료자동주입기
- 무작위 X, Y, Z 접근은 소프트웨어에서 조절 가능
◦ 광학부
- 확대 범위 : 2.6 x ~ 32.5 x
- 재연성 : 2 μm 미만
◦ 소프트웨어와 데이터 시스템
- 획기적인 매트릭스-지정 메소드 설정 마법사
- 모든 시료 데이터, 내부 표준물질/품질관리 시그널 추세 그리고 검량선 포함