BT Imaging
LIS-R3
9년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 이미지분석장비 > 레이저형광이미지분석기
2019-08-09
558,315,424원
기관의뢰
고정형
시간별
250,000원
결정질 실리콘 태양전지의 발광 검사 및 특성 분석
- 완성된 태양전지 및 반공정된 태양전지의 광발광 측정
- 광발광된 샘플 정보를 이용하여 태양전지의 특성 평가
● 개방전압 imaging, 효율 imaging, 충진율 imaging, 재결합전류밀도 imaging
● High injection에 따른 defect 상태 측정
● 전압·전류 인가에 따른 EL 및 직렬저항 imaging
● 실리콘 웨이퍼 초기 특성 확인(ring pattern 여부 등)
● high magnification 측정으로 미세 크랙 형성 여부 확인
- Photoluminescence, electroluminescence 용 카메라
1024 × 1024 pixel
태양전지 전체 뿐 아니라 국부적으로 확대할 수 있는 광학계 포함(30㎛/pixel)
- Photoluminescence, electroluminescence 용 광학계
상용 태양전지의 크기인 6“ 태양전지용 실리콘 웨이퍼 대응(M2 사이즈)
광학계를 이용하여 확대하였을 때는 30 um/pixel보다 같거나 작은 resolution을 가져야 함.
- Photoluminescence testing system용 레이저
레이저를 이용하여 6인치 결정질 실리콘 태양전지 내에 조사
파장 915nm, 출력 78 W, 펄스시간 : 5 us - 40 s, 펄스속도 : single shot부터 125 kHz
레이저 출력 안정성 및 수명 향상을 위한 chiller 포함
- Electroluminescence 및 cell stage
태양전지 측정용 지그와 동등 규격
태양전지 웨이퍼 M2(156.75mm x 156.75mm) size 이상, 5버스바 이상
EL 측정 가능
- minority carrier lifetime을 측정할 수 있는 장치
QSSPC법으로 측정할 수 있는 장치
- Data 획득 및 처리
PL intensity와 lifetime data correlation 소프트웨어
Laser를 광원으로 한 dark IV 및 light IV 측정 및 보정
직렬저항을 제거한 light IV 특성 측정 기능
Voc, FF, Eff, J0 imaging 기능
불균일도 metric 기능, dark corner area metric 기능, ring pattern metric 기능
crack detection 기능
- 처리 속도
EL 15초 이내
PL 16초 이내
Rs 65초 이내
J0, Jmpp, Jsc, Voc, Eff 75초 이내
light IV, Dark IV, Suns-Voc curve 45초 이내