Riscure
Twinscan
5년
주장비
시험
전기·전자장비 > 분석장비 > 달리 분류되지 않는 분석장비
2019-09-11
474,760,000원
기관의뢰
고정형
일별
1,000,000원
- 두 개의 광학 장비를 통해 IC Chip과 같은 모듈에 오류주입을 수행하는 장치이다.
- 본 장비는 부채널 시험 중 DFA 시험을 수행할 수 있도록 분석모듈과 연계되어야 한다.
- Multi-area Fault injection 부채널 분석 장비 1 set으로 구성된다.
ㅇ (HW) Multi Laser Fault Injection
- 취약성 평가 대상의 공격 위치 확인을 위한 현미경 연동 지원
- IC Chip 전/후면 및 파장 별 Fault Injection 평가를 위한 laser source 지원: 1064nm Diode laser NIR-Back Side: 808nm Diode laser Red-Front Side: 1064nm DPSS laser source NIR-Back Side: 532nm DPSS laser source Green-Front Side : Alphanov PDM2+HP 980nm Diode Module : Alphanov PDM2+HP 1064nm Diode Module
- Embedded Hardware에 대한 Fault Injection 지원