TRIOPTICS
WaverMaster
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 이미지분석장비 > 달리 분류되지 않는 이미지분석장비
2019-08-09
158,496,310원
기관의뢰
고정형
시간별
80,900원
웨이퍼 공정을 이용한 성형렌즈, 적층정렬이 된 웨이퍼렌즈 모듈의 수차 및 표면에서의 파면수차를 분석하는 장비
- 측정방법 : 샤크-하트만(Shack-Hartmann) 파면센서를 이용한 측정
- 측정항목 : Wavefront, Zernike coefficients, Point spread function, Strehl, Modulation transfer function, Effective focal length
1) 주장비 : 광부품 수차 및 표면 측정기
○ 측정범위 및 정밀도
- Sampling points : 102 × 102 point 이상
- Design Configuration : Infinite – Finite
- Field measurement : Field angle 25 deg. 이상
- Sample effective focal length : 10mm 이하
- Sample exit pupil diameter : 0.6 ~ 10mm 범위 이상
- Wavefront accuracy : λ/10 이하
- Wavefront repeatability : λ/200 이하
- Wavelength : 455nm, 533nm, 635nm
- Measurement speed : 4Hz 이상
- Motorization : Field measurement, sample rotation
- Alignment aid : Automated system tracking during alignment
○ 측정 소프트웨어
2) 보조장비 : 액세서리
○ Reference 샘플 1ea
○ 장비 운영 PC 및 모니터 1set