Bruker
DMFS-PKG
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경
2019-04-29
282,711,930원
기관의뢰
고정형
건별
1원
본 장비는 소재의 미소 영역 측정 및 연구 장비로 기능성 화학소재 연구에 필수적 장비로서, SEM, TEM 보다 낮은 영역의 Nano size 측정에 사용 되며 단순 표면 측정뿐만 아니라 물질의 다양한 특성을 측정 분석 가능하다.
FastScan AFM은 일반 AFM에서는 불가능한 속도와 분해능, 생산성 향상을 가져와서 전 과학영역 화학, 물리학, 생물학, 신소재, 반도체, 데이터 저장 및 에너지 연구 분야등 다양한 융합 연구에 새롭고 획기적인 연구 및 분석이 가능하다.
FAST SCAN AFM은 일반 AFM대비 100배 이상 빠른 측정 제품으로 일반 AFM 6대의 성능을 가지며 일반 AFM과 비교했을 때, 데이터 재현성 및 정확성이 일정하게 유지되는 데이터를 얻을 수 있다.
○ FastScan Scanning Probe Microscope
- Highest fast working time : < 100s
- vacuum sample chuck size on X-Y motorized stage : 210mm diameter, 15mm thickness
○ FastScan Removable XYZ Closed-Loop Scan Head (High Speed Flexure Scanner)
- X-Y Scan range : 35um x 35um
- Vertical range : > 3um
- Standard operating modes : PeakForce Tapping, ScanAsyst, TappingMode (air and fluid), PhaseImaging, Contact, Lateral Force, Lift, Force Spectroscopy, Force Volume, MFM, Nanoindentation, Nanomanipulation, Nanolithography and Nanomechanical Mapping for FastScan XYZ scan head.
○ SPM Control Station System,
- Data : Min. 4,000 x 4,000 pixel density for all (8) channels.
- Software-control : Digital Q-control of the cantilever’s Quality factor.
- Thermal Tuning of cantilever resonance range : 2MHz.
- least 3 user accessible lock-in amplifiers : two independent high speed lock-ins (with a minimum range of 1KHz to 5MHz), and one mid-range lock-in (with a minimum range of 0.1Hz to 50KHz)