BRUKER
e-FlashFS
10년
부대장비(부가장치) (주장비:전계방출형주사전자현미경(에너지분산형분광분석기 포함))
분석
화합물 전처리·분석장비 > 분광분석장비 > X-선회절분석기
2018-12-19
173,701,410원
기관의뢰
고정형
시간별
100,000원
후방산란전자회절패턴분석기(Electron Backscatter Diffraction)는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)에 장착되어 사용되며, 주사전자현미경의 가속 전자가 시료에 주입되었을 때 반사되는 전자(후방산란전자)를 검출하여 재료의 방위(orientation)를 분석하여 구조분석을 수행하는 장비이다. 또한 EDS와 결합하여 동시 분석을 통해 화학적 성분분석이 가능하다.
(1) EBSD Detector
- High Sensitivity and Fast EBSD Detector
- CCD Native image resolution : 640 x 480 pixels, 12bit CCD Camera
(2) FSE/BSE detector
- 3 FSE Detector and 2 BSE Detector
(3) Energy Dispersive X-ray Spectrometer
- Active area : 100 mm2
- Energy resolution ≤ 129eV at Mn Ka
(4) Transmission Kikuchi Diffraction detector
- Horizontal phosphor screen