JEOL
JSM-7900F
11년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 이미지분석장비 > 달리 분류되지 않는 이미지분석장비
2018-12-07
614,203,200원
기관의뢰
고정형
시간별
60,000원
전자주사현미경은 전자선을 교차하여 전자빔을 시편에 조사하여 발생하는 이차전자, 후방산란전자, X선 등을 검출하여 분석하는 장비이다. 본 장비는 EBSD 및 EDS 분석 기능이 장착된 전계방사형 주사전자현미경으로 금속, 세라믹 및 고분자 시료의 미세조직 분석과 국부적인 화학조성 분석 그리고 결정질 재료의 결정방위를 분석할 수 있는 기능을 가지고 있다.
1. FE-SEM
- Electron gun : Schottky Field Emission
- Accelerating voltage : 0.2kV~30kV
- Resolution : 0.7nm(15kV), 0.8nm(1kV), 1.0nm(0.5kV)
- Magnification : x25 ~ x1,000,000 이상
- Detector : Top secondary electron detector(SE, BSE separate detection system) or better Upper secondary electron detector(SE, BSE separate detection system)
2. EBSD
- Symmetry EBSD detector
- Over 3000 indexed patterns per second (pps)
- Up to 30x faster than existing CCD-based detectors
- Extreme sensitivity for low current and low kV analyses
- 1244 x 1024 pixel resolution, ideal for HR-EBSD applications
- High resolution patterns at all speeds
3. EDS
- X-Maxⁿ 50
- SDD type detector