Riscure
Fauit Injection
5년
주장비
분석
전기·전자장비 > 분석장비 > 달리 분류되지 않는 분석장비
2012-10-25
453,399,999원
기관의뢰
고정형
일별
1,000,000원
○ IC Chip에 대한 부채널 취약성 분석 장비로 semi-invasive attacks, non-invasive attacks 수행을 위한 장비임
○ 해당 장비의 목적은 M2M기반의 IT융합기기 안전성 보증을 위한 취약성 시험장비 확보(부채널 및 오류주입 안전성 평가)에 있음
- 암호 연산에 따른 IT융합기기 전력 소모량/전자기파 방출량을 수집/분석하여 내부 비밀정보 유추 시험에 동작하는 장비
- 암호 연산, 사용자 인증 동작 중 외부에서 광원을 주입하거나 동작 전력을 변화시켜 내부 비밀정보 유추 시험에 동작하는 장비
○ 시험 신뢰성을 위해 암호 알고리즘 시험 소프트웨어 추가
- 자체 개발 도구로 시험 수행하였던 DPA, CPA에 대한 시험을 신뢰된 도구(부채널 분석 모듈)를 통해 수행하도록 함
○ IC Chip에서 발생되는 전자파를 수집하기 위한 도구 및 소프트웨어 장비 구비
- 전자파 수집 프로브 및 Deep Learning 수행 가능 소프트웨어 추가
○ H/W 및 S/W 기반 암호모듈 부채널 분석장비
○ M2M 인증 모듈 광학오류주입 분석장비
- Riscure Multimode Diode Lasers
- XY Laser Station
- Safety box
○ 부채널 및 오류주입 시험을 위한 파형 분석 및 필터장비(신호필터링 및 Timing 정렬)
○ 부채널 분석 모듈 추가
- AES Advanced Analysis
- AES DFA
- AES Known Key Analysis
- AES Second Order Analysis
- AES Chosen Input First Order Analysis
- AES Chosen Input Known Key Analysis
- DES Advanced Analysis
- DES DFA
- DES Known Key Analysis
- DES Masked Input Analysis
- DES Partly Constant Analysis
- DES Second Order Analysis
- DES Key Scheduling Template Analysis
- ECCByteMultiplyAnalysis
- ECNRPartialNonceAnalysis
- RsaBinExpoAnalysis
- RSA CRT DFA
- RsaCorrelation
- RsaCrtAnalysis
- RSA High Order Analysis
- RsaNeighborCorrelation
- SEED Analysis
- T-test module
○ 비접촉 파형 수집도구
- Two EM Probes
- motorized XYZ table(YZ table step size 0f 2.5 μm)