JEOL Ltd
IB-19530CP
11년
주장비
생산
기계가공·시험장비 > 성형/가공장비 > 레이저가공기
2018-04-27
104,278,890원
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직접사용
고정형
건별
100,000원
- 재료의 미세구조 및 결함들을 SEM 등을 활용하여 분석하고자 할 때 시편의 표면을 Low energy로 Cross Section 가공하여 관찰할 수 있도록 해주는 장비
- 기존 샘플의 단면 분석을 위하여 Mounting → Grinding → Polishing의 시편제작 소요시간을 1시간 이내로 획기적인 시간 단축 가능
1. 이온 가속전압 : 2~8kV
2. 이온 빔 직경: 500 μm
3. 밀링 속도 : 500 μm/h
4. 최대 시편 크기 : 11mm(W) x 10mm(L) X 2mm(D)
5. 시편 이송 범위 : X축 : ±6 mm Y축 : ±2.5 mm
6. 시편 회전 각도 조정 범위 : Rotation : ±5° , Swing : ±30°
7. 작동 방법 : 터치패널 & PC
8. 밀링 위치 확인 : 카메라 및 모니터
9. 위치 확인 정확도 : 3 μm
10. 모니터링 카메라 : 20 ~ 100 X