JEOL
JEM-2100PLUS / AZtec TEM
5년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경
2017-12-29
814,610,722원
기관의뢰
고정형
시간별
100,000원
일반 광학현미경으로 관찰이 불가능한 물질의 미세영역을 전자선을 이용하여
고배율(최소 25배에서 최대 100만배까지)로 확대하여 고분해능의 구조분석
및 물질의 성분 분석을 할 수 있다.
전자빔을 방출하여 집속,확대 시키는 전자광학계, TEM 전용홀더를 장착할 수
있는 Goniometer, 각종 검출기, 조작 테이블, 조작용 PC 등 여러 부품으로
구성되어 있으며, EDS 라는 성분분석기를 사용하여 시편의 관찰 영역에 대한
미지물질의 정성과 정량분석 및 mapping을 할 수 있어 기초 과학 분야의 재료
연구개발 및 분석 등의 연구업무에 필수적으로 활용되는 기초 분석 장비이다.
Transmission Electron Microscope (TEM) Main body
Scanning Transmission Electron Microscope device with detector
TEM용 Digital image observation/ image recording system
Energy Dispersive x-ray Spectrometer (EDS) system