리가쿠
ZSX Primus IV
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 방사선발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 방사선발생/측정장비
2018-03-16
190,783,070원
기관의뢰
고정형
시간별
30,000원
-시료에 X선을 조사해 2차적으로 발생하는 X선을 이용하여 원소의 정성∙정량 분석을 하는 대표적인 원소 분석
방법
-비파괴적이며 시료 전처리 시간이 매우 짧아 신속한 측정에 용이
-2차 X-ray를 이용하여, ppm 부터 100%까지 넓은 정량분석범위를 가지며 여러 분야에서 다양하게 응용이
가능함.
-Be~U까지 모든 원소의 정량 및 정성 분석 가능
-시료 전처리 시간이 짧아 신속한 분석지원이 가능
-원재료의 조성이나 금속, 화합물, 복합재료 등의 조성평가에 이용됨.
-공정관리, 재료개발, 제조품 검사 등 다양한 분야의 산업현장에서 XRF 분석이 주류를 이루고 있음.
-자동차 부품 설계 및 생산품, 부품 내구성 강화를 위한 도금, 전장품의 유해물질 함유 여부 등 분석 가능
-세라믹, 철강 및 비철금속, 시멘트, 지질, 폴리머, 박막시료 등 각종 원료 및 제품에까지 다양한 시료 및 응용에
적용
X-ray generator
4kW X-Ray Generator
Rating : 60kV, 150mA
(Maximum current is limited depending upon the
type of X-ray tube)
X-Ray Tube
Thin beryllium end window type : 30㎛
Target : Rh
Auto sample changer
X-Ray irradiation type : Top irradiation
Analysis element range : 4Be to 92 U
Mechanism : X-Y transfer
Crystal
5-crystal with high sensitive curved crystals
1) LiF(200) : 19K~92U
2) GeH : 15P~21Sc (30% higher than Ge)
3) PETH : 13Al~21Sc (30% higher than PET)
4) RX25 : 8O~12Mg
5) Crystal for Carbon