JEOL
JSM-6700F
4년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2001-08-14
256,350,000원
기관의뢰
고정형
건별
80,000원
전계방사형 주사전자 현미경_EDS 분광 분석기
금속, 세라믹, 폴리머, 복합체 등 다양한 소재의 표면 형상 관찰을 위한 장치
EDS 분광 분석기를 통해 정성 분석, Mapping 기능을 활용한 원소 분포 예측
전계방사형 주사전자 현미경_EDS 분광 분석기
금속, 세라믹, 폴리머, 복합체 등 다양한 소재의 표면 형상 관찰을 위한 장치
EDS 분광 분석기를 통해 정성 분석, Mapping 기능을 활용한 원소 분포 예측