FEI company
Hellios 600
10년
주장비
시험
기계가공·시험장비 > 성형/가공장비 > 표면가공기
2011-02-16
1,206,397,815원
집속이온빔
TEM 샘플 또는 기타 표면 형상 관찰용 샘플 제작용 FIB
Ga ion source, FE-SEM 동시 활용가능 (Schottky type)
resolution : 0.9 nm at 15 kV,
고분해능 표면관찰/이온 이미지
TEM 샘플 또는 기타 표면 형상 관찰용 샘플 제작용 FIB
Ga ion source, FE-SEM 동시 활용가능 (Schottky type)
resolution : 0.9 nm at 15 kV,
고분해능 표면관찰/이온 이미지
기관의뢰
고정형
시간별
200,000원
TEM 샘플 또는 기타 표면 형상 관찰용 샘플 제작용 FIB
Ga ion source, FE-SEM 동시 활용가능 (Schottky type)
resolution : 0.9 nm at 15 kV,
고분해능 표면관찰/이온 이미지
TEM 샘플 또는 기타 표면 형상 관찰용 샘플 제작용 FIB
Ga ion source, FE-SEM 동시 활용가능 (Schottky type)
resolution : 0.9 nm at 15 kV,
고분해능 표면관찰/이온 이미지