위지스
WEZ-0409
9년
주장비
시험
기계가공·시험장비 > 반도체장비 > 달리 분류되지 않는 반도체장비
2017-02-10
65,486,400원
기관의뢰
고정형
시간별
1,370원
◦ 고온 다습한 환경에서 Device가 사용되었을 때 고온/고습/Bias로 인한 Package의 열화 또는 습기로 인한 Chip 내부의 Corrosion을 유발하며, 환경적인 결함 및 Device에 인가된 Voltage에 의해 Electronic Field의 영향을 받아 내부에 존재하고 있는 불순물, Ion등으로 인한 Transistor의 Vt Shift로 Parameter Shift등 전기적인 결함을 평가하기 위한 시험장비
* Digital Multimeter
- Master display : 80000
- Max. AC/DC Voltage : 1000VDC/750VAC
- Max. DC/AC Current : 20A
- Resistor : 0.1 Ω ~ 80MΩ
- Capacitor : 1pF ~ 100uF
- Temperature : -50℃ ~ 1372℃
* Frequency Counter
- Range : CHA : 1hz ~100Mhz CHB : 80Mhz ~ 2.7Ghz
- Input Sensitivity:CHA : 40mVrms sine wave or 200mVpp
CHB:40mVrms sine wave 80Mhz to 2Ghz
70mVrms or 200mVpp 2Ghz to 2.7Ghz
- Measurement accuracy : ±5 x 10 -7/s
- Time base : 10Mhz/ ±5 x 10 -6
* DC Power Input
- 0 ~ 30V / 0 ~ 3A
- +15V / 1A Fixed, 15V / 1A Fixed, 5V / 2A Fixed
* High Power Input
- Input Voltage : 220VAC ± 10% 60hz
- Output Voltage : 0 ~ 100.0V
- Output Current : 0 ~ 7.5 A
- Voltage resolution : 10mV
- Current setting resolution : 10mV
- Power Step input
* Function Generator
- Frequency Range : Sine wave : 0.1 hz ~ 10Mhz
0.1 hz ~ 2Mhz(100mVpp ~ 10Vpp, 50Ω)
2 Mhz ~ 5Mhz(100mVpp ~ 2Vpp, 50Ω)