JENOPTIK
HOMMEL-ETAMIC nanoscan 855
9년
주장비
계측
물리적 측정장비 > 표면특성측정장비 > 표면거칠기/미세구조측정장비
2016-10-28
168,193,650원
기관의뢰 직접사용
고정형
시간별
36,300원
Combined roughness and contour measuring system(조도형상 복합 측정) 가능한 장비로
Large measurement range (넓은 측정범위) 제품까지 측정 가능한
0.6nm의 High resolution(초고분해능) 을 가진 장비입니다.
Measuring range(측정범위) : 24 mm (Standard measuring arm) / 48 mm (Double probe arm)
Resolution(측정분해능) : 0,6 nm (Standard measuring arm) / 1,2 nm (Double probe arm)
Straightness guide (수평진직도) : <0,4 µm / 200 mm
Instrument table (L x W x H) : 1190 x 800 x 780 mm