TDK
SI-300
9년
주장비
시험
전기·전자장비 > 분석장비 > 달리 분류되지 않는 분석장비
2015-07-02
333,278,470원
고정형
시간별
50,000원
◦ LED 조명기기, IT 기기, 전기/전자기기 등의 고주파 환경 내에서의 전자파 방사 내성을 시험
◦ 조명기기, IT 기기, 전기/전자기기 등의 전자파 장해 및 내성에 대한 연구 개발 및 인증 시험을 수행
◦ 구성
- 광대역 High Power Amplifier(I) : 80MHz ~ 1,000MHz, 1000W
- 광대역 High Power Amplifier(II) : 1GHz ~ 4GHz 125W
- E-Field Probe 및 optic cable
- Control Pc, 및 S/W
- 송신용 안테나
- RF 신호 발생기 1대(관급)
- RF Powe Meter 2ch 및 Power Probe 1대(관급)
- 기타 부속 장치
◦ 주요 사양
- 시험 주파수 범위 : 80MHz ~ 4GHz
- 발생 가능 전계 : 50V/m 이상, 3m Distance
◦ 시험 가능 규격
- IEC 61000-4-3