Carl Zeiss
AURIGA
11년
주장비
분석
광학/전자영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
공동활용허용
2013-03-04
1,084,234,770원
기관의뢰
고정형
시간별
250,000원
- FIB : 30kV로 가속된 Ga ion을 시료에 조사하여 재료를 에칭하는 기술로서 표면 단면을 관찰
- SEM : 전자빔을 발생, 가속시켜 시료에 조사한 후 시료표면에서 발생된 2차 전자-후방산란전자 등을 이용하여 미세한 표면의 요철 및 조성상을 관찰
- 이미지 분해능 : 1nm (SEM, 15kV), 2.5nm(FIB, 30kV)
- 배율 : SEM (x12 ~ x1,000,000), FIB (x300 ~ x500,000)
- 에너지분산엑스선분광분석기 (EDS) : 127eV, SDD
- 다중 Gas 주입시스템 : Pt, C, XeF2, SiO, H2O2
- 연속절삭법(Serial Sectioning)을 통한 실시한 단면이미징
- 3차원 가시화 장치(AVIZO 3.0) : 단면이미지의 3차원해석 (단면 milling Step: 3nm~100nm)