Carl Zeiss
LEO SUPRA 35
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2012-01-10
627,377,287원
고정형
시간별
80,000원
Scanning Electron Microscope 은 수십나노미터 크기의 미세한 구조를 관찰하는데 사용되는 장비이다.
Scanning Electron Microscope 은 수십나노미터 크기의 미세한 구조를 관찰하는데 사용되는 장비이다.
Electron Gun : W Hairpin filament - Accelerating Voltage :0.3 to 30 KV - Resolution : 100 nm - Work Field :400 ㎛ 400 ㎛ - Specimen Stage : Type : Fully Eucantric gionimeter Specimen movement - X : 125 mm - Y : 100 mm - Pattern Generator : 2.6MHz