JEOL
JOEL JEM-2200FS(with Image Cs-corrector)
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경
2007-03-07
2,405,006,521원
고정형
시간별
250,000원
투과전자빔에 의한 나노 구조분석/ 원소분석
[TEM/BF/DF/SAED/EF-TEM(EELS Mapping)/
STEM/BF/HAADF/EDS]
특징
- 가속전압 200KV TEM Point Resolution 0.14nm - TEM Lattice Resolution 0.1nm - STEM HAADF Resolution 0.2nm - Energy Resolution : 0.8eV(zero-loss FWHM) EDS(OXFORD) Gatan US1000 CCD EELS(Omaga Filter) Digiscan Module STEM Image Cs-Corrector
제조사 JEOL
모델 JOEL JEM-2200FS(with Image Cs-corrector)
사양 0.1nm, 200KeV
용도 투과빔에 의한 나노구조/성분 분석 (TEM/BF/DF/SAED/EF-TEM(EELS Mapping)/STEM/BF/HAADF/EDS)
키워드 TEM/BF/DF/SAED/EF-TEM(EELS Mapping)/STEM/BF/HAADF/EDS