파크시스템스
XE7
5년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경
공동활용허용
2015-09-21
62,900,000원
원
원자현미경은 3차원 형상을 측정하는 기능을 수행하는 표면분석장치로 텅스텐 또는 백금으로 된 탐침 대신 나노 기술로 제조된 프로브를 사용하는데, 이 프로브는 프로브 모판(substrate) 끝에 아주 미세한 힘에서 쉽게 휘어지는 판형 스프링(cantilever) 끝에 원자 몇 개 정도의 크기로 끝이 가공된 탐침(tip)을 붙였다. 탐침 끝의 원자와 시료 표면의 원자들 사이에 작용하는 척력과 반데르발스 인력을 이용하며, 작동에 사용되는 힘의 종류에 따라서 접촉 모드와 비접촉 모드로 나눠진다. 시료 표면의 원자와 캔틸레버 끝에 달린 바늘 사이의 원자력은 캔틸레버를 아래 위로 휘게하고, 캔틸레버의 각도변위는 캔틸레버 윗면에서 반사되는 레이저 광선의 각도 편향시킨다. 따라서 레이저 빔의 편향 각도를 포토다이오드(PSPD)로 측정함으로써 표면의 굴곡과 3차원형상, 표면의 거칠기값을 알 수 있다.
1) Acoustic Enclosure - Liquid Cell
수직(Z) 스캐너와 수평(XY) 스캐너를 분리하여 상호간섭 배제
2) AFM 스테이지 / 헤드 / 스캐너
- 최대 샘플 사이즈 : 50 x 50 (mm)
- 최대 샘플 중량 : 500 g
- 샘플 이동거리(XY) : 최대 20 x 20 (mm)
- 50 um 수평(XY) 스캐너 : Closed-loop Feedback 제어
* 수평(XY) 측정영역 : 최대 50 x 50 (um)
* 분해능 : <0.05 nm (open loop),
<0.3 nm (close loop)
* Out-of-plane curvature (스캐너 왜곡율) : 2 nm 미만 (수직방향/소프트웨어 보정없이 40 um 측정 시)
* 수직(Z) 측정 영역 : 최대 15 um
* Noise floor : <0.02 nm (typical),
<0.03 nm (maximum)
* 최대 공진주파수 : 9 kHz 이상
- 캔틸레버 변형의 검출 방식 : SLD (Super Luminescent Diode ) 이용
* 파장 : 830 nm ( Coherent Length : 50um 미만 )
- 캔틸레버 진동 주파수 : 최대 3MHz
- 측정 기능
: Contact AFM, DFM, NC-AFM, LFM, Phase Image, Force vs. Distance spectroscopy.
Option monde : FMM, MFM, EFM, DC-EFM, SKPM, PFM, Nanoindentation.
- 비디오 광학 현미경 : 수직(Z) 스캐너 축에 일치 ( CCD 카메라 장착 )
* 배율 : 780 배 이상
* 관찰 영역 : 480 mm x 360 mm
* 디지털 줌 : 최대 100 배
3) 콘트롤 시스템
- X/Y/Z 콘트롤 회로 : 3축 모두 Closed-loop Feedback 위치제어
- DSP 제어 : 600 MHz DSP Control (4,800 MFLOPS )
- Electrical Controller : 20 bit DAC for x,y,z scanner positioning, 24 bit ADC for x,y,z position sensor, Digital Q control