JEOL
IB-09020CP
10년
주장비
분석
화합물 전처리·분석장비 > 달리 분류되지 않는 화합물 전처리 분석장비 >
공동활용허용
2014-08-29
60,000,000원
원
Ar 이온을 이용하여 분말 입자, 전극등의 단면을 식각하는 방식으로 균일하게 연마해주는 것이 가능한 장비로서,
입자나 전극의 단면의 SEM 및 EDS분석을 위한 시편 제조용 장비로 활용됨
1. Cross Section Polisher
1) Accelerating voltage : 2 to 6kV
2) Ion beam diameter : 500 um (FWHM)
3) Milling rate : 100um/H (6 kV, Silicon, 10um from edge)
4) Max. specimen size : 11mm(W) x 10mm(D) x 2mm(T)
5) Specimen stage : X : ± 10mm, Y : ± 3mm
6) Specimen alignment : ± 5 ˚
7) Specimen-rotation angle adjustment angle : ± 30 ˚
8) Gas : Argon
9) Pressure measurement : Penning gauge
10) Pumping system : TMP, RP