Bruker
Innova SPM
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2015-09-21
87,000,000원
기관의뢰
고정형
건별
150,000원
조선·해양 도장용 표면처리부품 표면의 미세영역과 모폴로지를 수 ㎚에서 수 ㎛에 단위영역에서 측정이 가능한 장비로 특히, 금속시험편의 부식 시험 전·후 표면상태의 Å 단위 조도 측정과 미소영역의 부식(pitting, crevice, crack, fatigue 등) 형상 분석을 통하여 부식손상에 대한 원인규명 및 신뢰성 평가에 활용하고자 함.
Atomic Force Microscope(AFM)은 STM과는 달리 텅스텐 또는 백금으로된 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하며, 이 프로브는 모판(substrate) 끝에 아주 미세한 힘(Nano -newton)에서 쉽게 휘어지는 판형 스프링(cantilever) 끝에 원자 몇 개 정도의 크기로 끝이 가공된 탐침(tip)이 부착된 형태임.