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10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비
2015-02-27
78,000,000원
고정형
건별
50,000원
전자 현미경에 장착하는 성분분석기는 전자현미경에서 발생하는 전자빔이 시료 표면을 주사할 때 전자와 시편의 상호 작용에 의해 시편에서 방출되는 여러 정보들 중 특성 X-ray만을 에너지 준위별로분광시킴으로서 관측하고자 하는 시료의 미세 영역에 조성되어 있는 4Be ~ 92U까지 원소에 대한 정성 및 정량분석을 한다
1. 시스템 컴퓨터(* 고객에게 해당 품이 납품 되는 시점에 최신의 사양으로 공급됩니다)
1) 2.4GHz Intel Core 2 Duo Processor E4500 with 1GB DDR2 RAM or better
2) 200 GB HDD, 48x SATA SuperMulti LightScribe DVD Writer Drive or better
3) Keyboard and Mouse, 10/100BT LAN adapter
4) Windows 7 Professional and Internet Explore
5) 23" LCD Monitor 2. 미량 분석 프로세서
1) 초 메모리 고속 마이크로 컨트롤러 (메모리 및 X-선 신호 acquisition 및 처리.)
2) PCI TRANSLINK 시스템의 컴퓨터에서 데이터의 고속 전송을 위한 초고속 데이타버스, 파이프 라인 통신 시스템
3) 두개의 RS232 시리얼 포트 또는 하나의 RS232 시리얼 포트와 하나의 Laserbus 포트
4) 온보드 진단(시험 펄스 생성 및 전원 공급 장치, 램프, EDS 하드웨어 온도를 지속적인 모니터링을 포함)
3. Mics-고급 디지털 주사 시스템
1) 검사 및 속도에 최적의 성능을 수 있도록 아날로그 이미지 수집을 제어하는 디지털 신호 프로세서 (DSP)를 사용합니다.
2) 이미지 데이터 VRAM 2MB를 포함
3) 4MB의 DRAM 포함(이PC에 전송되기 전에 SmartMap ™ 데이터를 위한 버퍼로 사용됨.
4) 칼만 노이즈 제거 기능을 포함
4. 실리콘 드리프트 분석용 검출기 (LN2 free)
1) 분해능 : 10mm2, Mn Ka 에서 분해능 129eV 이상
2) 분석결정 : 실리콘 드리프트 검출기
3) 윈도우 : 대기압에 견디는 Super ATW
4) 검출 원소 : 4Be부터 98Cf
5) 전자 현미경 챔버안에서 쉽게 검출기를 조정되고 위치를 조정 할 수 있는 자동 제어와 슬라이드 마운트 기능
6) 분해능은 ISO15632 규정에 의한 분해능 보증 .
D. 응용 소프트웨어 1. Advanced digital scanning system 차세대 디지털 주사시스템 2. Element SmartMap -- 원소지도 기능. 3. Element Linescans 선분석 4. Spectrum Comparison 스펙트럼 비교 5. Quantitative Analysis 정량분석 6. Standardization 표준화 7. Quant Optimization 정량 최적화 8. Acquire Spectra 스펙트럼 얻기 9. Element Identification and Labeling 원소 구별 및 라벨링 10. Spectrum Manipulation and Display 스펙트럼 조정 및 표시 11. Spectrum Reconstruction 시펙트럼 재구성 12. Project 프로젝트(시편, 원소 작업자별 분류) 13. Sample 시편 14. Microscope Set up for Microanalysis 미세분석을 위한 SEM 조정 15. Site Interest 분석 영역 16. Data Export 자료 변환.. 17. Create Word™ Document MS워드파일에서 작업 18. Project Export as 'HTML' 프로젝트 HTML로 변환 19. Access to Customer Support/Supplier World-wide web (고객센터)
E. 시스템 구성 1. 에너지 분산형 성분분석기 1 set
2. 시스템 컴퓨터(모니터 포함) 1 ea
3. 마이크로분석 프로세서 1 ea
4. 최신의 디지탈 주사시스템. 1 ea
5. 실리콘 드리프트 분석용 검출기 (LN2 free) 1 ea
6. 전자현미경용(JSM-6010LV) 주사제어 인터페이스 및 외부 조정기 1 ea
7. 응용 소프트웨어 (1) 전자현미경용 점. 선 분석 네비게이션 1 ea
(2) 스펙트럼 합성 1 ea
(3) Lines and Grid 1 ea
(4) 정