JEOL Ltd.
JED-2300/2300F
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2014-12-08
46,153,500원
고정형
시간별
70,000원
- 성분분석기(Energy Dispesive X-ray Spectrometer)는 일반 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)의 보조장비로서 전자에 맞은 재료의 X-ray신호를 통해 시료의 성분을 알 수 있는 장비이며, 재료의 정성분석이 가능하다.
- 재료를 파괴하지 않고 수백~수천배 이상의 고배율로 관찰하면서 점, 면의 맵핑 분석으로 미세한 영역의 정성 분석이 가능하다.
1. Type of detector element: Silicon-drift detector
2. Effective detection area: 10 mm2
3. Detectable element range: B to U
4. X-ray take-off angle: 35°
5. Resolution (FWHM): 133 eV or better (55Fe, 5.9 keV, 1000 cps)
6. Detector cooling: Peltier cooling
7. Window: Atmospheric pressure resistant ultra-thin film
8. Detector movement: Fixed
9. Digital pulse processor
Throughout: 70 kcps
Interface: RS232C
Detectable element range: Be to U