Gatan
Gatan model #648
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경
2015-03-10
58,647,000원
이동형
시간별
179,230원
- 투과전자현미경(TEM)은 재료의 국소 영역 분석을 통해 결정구조 해석 및 성분 분석을 하기 위한 장비로서 그 활용도가 매우 높음
- 이차전지 소재의 열화 분석을 위해서는, 열화가 발생했을 때의 시편 상태를 그대로 유지하는 것이 가장 중요하며 이것은 곧 대기에 노출이 되지 않도록 관리해야 한다는 것을 의미
- 특히 열화 요인으로 추정하고 있는 최극표면부 결정구조 변화 관찰 및 SEI의 경원소 분석을 위해서는 반드시 대기비개방을 이용한 TEM 분석이 필요
- 일반적인 TEM 홀더는 시편 grid를 놓는 곳이 대기에 개방되어 있고, TEM에 홀더를 장입하는 과정에서 공기에 노출되기 때문에, 대기 및 공기로부터 열화된 시편을 보호할 수 있는 별도의 특수 홀더가 절대적으로 필요
- 구성 : Holder 본체 및 Accutroller
- 성능
. 진공 또는 다양한 gas 분위기 하에서 대기에 노출시키지 않고 시편 관찰이 가능
. X/Y축으로 double tile 가능