Omniprobe
Autoprobe 200.2
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 달리 분류되지 않는 광학·전자 영상장비 >
2012-11-27
74,690,000원
고정형
원
FIB 장비 내에 장입되어 용적이 큰 시료로부터 임의 가공된 미세 시료를 떼어내어 원하는 위치에 고정시키는 작업을 수행할 수 있도록 함으로써 TEM 시료 및 나노구조 소자 제작 등에 활용함
- 전자현미경 내에서 나노 시료에 대한 전기적 기계적 특성평가를 수행함.
- Dimensions : 635mm X 160mm X 150mm_x000D_
- External Envelope : 381mm X 160mm X 150mm_x000D_
- Weight : 5.76Kg_x000D_
- Insertion / Retraction Speed : < 10sec either direction pneumatic
- Translation (from image center) : ± 1mm(X and Y)Z≥10mm along probe axis
- Insertion Reproducibility : 2㎛
- Point to point resolution : ± 100nm
- Controller : Ethernet
- 3-axis positioning stage with linear feedback - 100nm step size
- Digital motion control and pneumatics interface
- Serve controlled 4th axis for rotation
- Save and return to locations
- Adjust the X Y Z frame of reference
- Surface contact warning and detection capable
- User-selectable fixed incremental movement
- MODEL 200.2 (Autoprobe Model 200.2)
- JEOL 4600 200 Configuration (JEOL 4600 200 CONI)
- Rotation option (RO-0001.01.01)
- Dell Computer and Flat panel monitor (MC-0001.15.00)
- Grid holder (TGH-0001.23.00)