스펙트리스코리아㈜
X’Celerator
5년
주장비
시험
기계가공·시험장비 > 재료물성시험장비 > 달리 분류되지 않는 재료물성시험장비
2012-04-09
68,362,926원
고정형
14,242원
○ 주요사양1. Detection type : Solid State detection2. No. pixels : 1283. 99% linearity range : 0-900 kcps overall4. Maximum count rate : 5000 kcps overall5. Maximum background noise : <0.4 cps overall6. Typical energy resolution for Cu Ka radiation : 25%7 Detector window size : 15mm parallel to the line focus and 9mm perpendicular to the line focus8. No water cooling & No nitrogen gas9. E-board for detector : 1ea10. Fixed anti scatter slits X’celerator : 1sets (13, 8.7, 6.6, 5.5, 5, 0.2mm)11. Soller Slit large 0.04rad : 1ea12. Monochromator Cu radiation : 1ea13. Fixed anti scatter slits X’celerator monochromator : 1 sets (8.6, 5.9, 4.6, 3.9, 0.2mm)
○ 특징1. Ultra High Speed Detector ( X선 회절분석기용 검출기)는 기존의 계수 비례형 검출기나 섬광 검출기와 비교하여 X-선을 검출하는 감도를 향상시킨다.2. 본 연구장비는 X-Ray 분석시 Background를 현저히 낮추어 결과적으로 분석시간을 100배 이상 단축시킨 검출기이다. 3. 본 장비는 Detector에 일반 검출기가 128개 설치되어 동시에 시료를 분석하는 효과를 낼 수 있다.4. XRD 장비를 이용하여 파우더 상분석, 정성분석, 잔류응력 등 광범위한 제반 분석들을 빠르게 비파괴적으로 수행할 수 있어서 산업 및 연구개발 전분야에 걸쳐 필수적으로 사용되는 장치이며, 최근 연구소, 생산현장에서 적극적으로 활용되고 있다.○ 구성 및 성능1. 구성 : X’celerator detector Fixed anti scatter slits X’celerator Soller Slit Monochromator Cu Fixed Slits X’celerator mono2. 성능 1. This detector should be mounted on the diffracted beam optical components.2. It should be an ultra-fast X-ray detector based on real time multiple strip technology. This technologyoperates as if there were an array of over a hundred detectors at work simultaneously in a X-raydiffraction system.3. RTMS technology should offer direct detection of diffracted X-rays and the ability to efficiently process high countrates without any compromise on resolution.4. All these benefits should lead to a reduction in measurement time for a normal powder diffraction diffractogramwith a factor of up to 100.5. It should be used in a number of powder diffraction applications like phase identification, standardlessquantification, crystallography, and non-ambient studies on flat powder samples, residual stress analysis and microdiffration.