피에스아이(주)
DARSA PRO-5200
9년
주장비
계측
광학·전자 영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비
2012-03-12
124,547,080원
없음
- 일반 형광체의 Excitation 및 Emission 파장을 측정하여 각종 분광 분석 데이터를 얻을 수 있는 장치
- 형광체의 PL 및 PLE 측정
- Decay time 측정
- CIE 색좌표 및 CRI 측정
- 온도의존 PL 발광특성 측정
- 측정 파장 (nm) : 190 to 1700nm
- 여기원 파장 (nm) : 200 to 2000nm
- 데이터 정확도 : L(λ)<0.05%, CIEx,y ±0.0005
- CIE 재현성 : ±7/10,000
- 디텍터 : High Sensibility Charge Coupled Device
- PLE-Excitation Source System for Phosphor Device
- Universal Sample Chamber & Beam Delivery lenses unit (2set)
- Decay Time measuring Assembly : Pulse Arc Xe Source Type
직접사용
고정형
건별
150,000원
- 일반 형광체의 Excitation 및 Emission 파장을 측정하여 각종 분광 분석 데이터를 얻을 수 있는 장치
- 형광체의 PL 및 PLE 측정
- Decay time 측정
- CIE 색좌표 및 CRI 측정
- 온도의존 PL 발광특성 측정
- 측정 파장 (nm) : 190 to 1700nm
- 여기원 파장 (nm) : 200 to 2000nm
- 데이터 정확도 : L(λ)<0.05%, CIEx,y ±0.0005
- CIE 재현성 : ±7/10,000
- 디텍터 : High Sensibility Charge Coupled Device
- PLE-Excitation Source System for Phosphor Device
- Universal Sample Chamber & Beam Delivery lenses unit (2set)
- Decay Time measuring Assembly : Pulse Arc Xe Source Type