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장비정보

제작사
브루커(bruker)
모델 명
MultimodeN3-AM

내용연수
10년
구분
주장비

용도
분석
표준 분류
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
취득일
2012-02-21

취득금액
143,764,500원
인증정보
없음
기능
Scanning Tunneling Microscope with Atomic Force Microscope의 원리는 다음과 같다. 먼저 주사터널링현미경의 원리는 터널링 전류를 이용한 나노단위의 표면 형상 측정 나노구조와 위상변화 측정 전기력측정 전위차 측정 표면조도를 측정하는 것 이고 원자 현미경은 아주 작은 탐침을 시료표면에 근접시키고 시료표면을 따라 주사하면서 각 지점에서 탐침에 의해 감지된 시료의 형상뿐만 아니라 각종 물리적 전기적 자기적 특성을 기록하여 영상화시키는 장치이다.
장비 상세설명
나노 연구 개발의 필수인 Scanning Tunneling Microscope with Atomic Force Microscope은 현재 반도체 신소재 생명공학 전기화학 LED 고분자등 현재 매우 광범위하게 사용되고있다. 다양한 환경에서 미소삼차원형상이나 여러 가지 물리량 분포를 관찰 할 수 있는 특징이 있어 다양한 시료에 폭넓게 이용되는 장비이다. 기존 전자현미경의 배율보다 우수하며 시료의 전 처리가 거의 필요 없어 관리 경비가 상대적으로 저렴할뿐만 아니라 대기중이나 액상에서도 시료의 관찰이 가능하며 또 전자현미경으로 관찰하기 어려운 절연시료(고분자유기박막세라믹) 관찰이 용이하다. 단순히 현미경의 역할만이 아닌 다양한 측정모드와 함께 물리적 전기적 특성도 함께 연구 할 수 있다.

이용안내

사용형태
기관의뢰

설치형태
이동형
사용료 형태
시간별

장비 사용료
30,000원

장비설명

나노단위의 샘플표면의 형상 및 전기적, 물리적, 자기적 특성들을 측정
Scanning Tunneling Microscope with Atomic Force Microscope의 원리는 다음과 같다. 먼저 주사터널링현미경의 원리는 터널링 전류를 이용한 나노단위의 표면 형상 측정 나노구조와 위상변화 측정 전기력측정 전위차 측정 표면조도를 측정하는 것 이고 원자 현미경은 아주 작은 탐침을 시료표면에 근접시키고 시료표면을 따라 주사하면서 각 지점에서 탐침에 의해 감지된 시료의 형상뿐만 아니라 각종 물리적 전기적 자기적 특성을 기록하여 영상화시키는 장치이다.

장비 구성 및 성능

XY sample stage with 1mm x 1mm rangeAccommodates samples up to 1cm x 2cmNoise level RMS: <0.3Å RMSAFM mode: 1)Tapping 2)Contact 3)LFM 4)CFM 5)Force-Distance & Curve

1. Resolution Noise level RMS : < 0.3 ？ RMS (open loop in appropriate environment) Vertical resolution : 0.1 ？ Lateral resolution : 1 ？ 2. Measurement Techniques 1)Tapping Mode Technology (Non-contact Mode) 2)Contact Mode AFM 3)Lateral Force (Friction) Microscopy (LFM) 4)Chemical Force Microscopy (CFM) with Add Chemical Probe 5)Force-Distance & Curve 6)Phase Imaging 7)Magnetic Force Microscopy (MFM) 8)Electric Force Microscopy (EFM) 9)Surface Potential Microscopy (SPoM) 10)Scanning Tunneling Microscopy on an independent base designed for STM 11)Lift Mode & Two-pass Mode

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