지우기술
GMS-IF
10년
주장비
계측
광학·전자 영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비
2012-01-25
346,500,000원
기관의뢰
고정형
시간별
100,000원
블랙바디에서 나오는 원적외선 빛을 파라볼릭 미러에 반사시켜 평행광을 만든후 해상력을 측정하고자 하는 렌즈를 평행광의 중심에 두어 맺히는 빛을 원적외선 센싱 센서를 이용 이미지의 특성을 측정함
- 측정할수 있는 항목은 렌즈의 해상력에 해당하는 엠티에프 및 축상 엠티에프 커브, 유효초점거리 측정 가능
- 추가적으로 광학 왜곡 및 상면만곡 측정이 가능함
- 본 시스템의 광은 블랙바디에서 모든 파장의 빛이 나오지만 블랙바디 앞쪽에 필터를 장착하여 원적외선에 해당하는 파장 8~12um 의 빛만을 이용하여 측정
- 광원 : 고온 블랙바디 (온도 : 상원~1200도)
- 콜리메이터 : 비축 파라볼릭 미러 직경 6“
- 평면 미러 : 50X40
- 센서 : 비냉각형 픽셀 어레이 320X240 픽셀사이즈 25um
- 타겟 : 십자형슬릿, H자형 슬릿
- 옵티컬테이블 : 2400 X 1200 X 150 mm성능
- 최대측정 구경 : 6“
- 블랙바디 온도 컨트롤 : 1deg
- 필터사이즈 : 직경 25.3 mm
- 렌즈홀더 : Asimuth Angle 360deg rotation