Hamamathu
PHEMOS-1000
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 카메라/영상처리장비 > 달리 분류되지 않는 카메라/영상처리장비
2006-06-10
752,915,140원
기관의뢰
고정형
기타
116,010원
반도체 소자 및 부분품 분석
1. 반도체 소자 및 부분품 분석 2. Photo Emission Microscope는 Wafer or Package에 Bias를 인가하여 불량 부위에서 발생하는 Photo Emission을 Detect 하여 불량 분석
1. Dual Optical System 2. Microscope Stage with motorized X_Y_Z stage 3. Macro Lens 0.8x N.A. 0.4 4. Long distance microscope objectives, IR-version 5x, 20x, 50x, 100x 5. NIR 1x for IR OBIRCH 6. Laser Scan Unit 7. Back Side Detection 8. Cooled CCD Camera with EEV CCD chip 9. Detector : InGaAs-Pin PD Resolution Max 1024 x 1024 10. 8inch Manual Probe