PSIA
XE-150
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2006-10-12
140,000,000원
기관의뢰
고정형
건별
55,000원
시료의 표면을 특정주파수에 떨림이 있는 특수 팁 및 다양한 모드로 스캔하여 원자수준에서의 3D 표면형상 및 높이정보를 획득하는 장비임. 시료장착 후 10초 이내 캔틸레버 터치완료 및 자동측정모드 적용되며, 카메라 자동초점, 스캔속도 자동제어로 측정시간 단축이 가능함.
*X-Y scannerScan size: 100 nm 10 nm in low voltage modeResolution: < 0.15 nm (< 0.02 nm in low voltage mode)Z-scannerScan size: 12 nm (1.7 nm in low voltage mode)Resolution: 0.05 nm (0.01 nm in low voltage mode)