코리아바큠테크㈜
KVG-FIB-T4030
10년
주장비
분석
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 달리 분류되지 않는 측정시험장비
2006-09-26
63,000,000원
기관의뢰
고정형
기타
100,000원
특징
1.Process Chamber
2.Vacuum Pumping Unit
3.Vacuum Gauge Control Unit
4.Gas Supply Unit
5.Sample Heating Unit
6.Sample Cooling & Monitoring Unit
7.X-Y-Z-O Moving Unit
8.Frame & Control Panel
활용분야
PDP 패널 MgO 보호막 이차 전자 방출 계수 측정
장비사용시에는 장비 담당자에게 연락.
장비 담당자와 신청자는 장비 사용에 대한 협의.
장비 사용 협의후 일정 확정.
장비 담당자가 장비 사용.
장비 사용후 장비 사용료에 대해서 장비 신청자와 서로 협의.
협의후 장비 사용료에 대해서 견적서 작성후 발송.
장비 사용자는 견적서 확인후 발주서 센터로 발송.
센터에서 발주서 수령후 세금계산서 발행
장비 사용자 입금.
진공 펌프. 가스 공급 장치. 진공 챔퍼. 샘플 히팅존으로 구성 되며 2차 전자 방출 계수를 측정 할때 사용 되어지는 장비이다. Mgo 표면에서 발생 하는 이차전자발생 계수를 측정 한다.