Rigaku
Primus 2
10년
주장비
분석
물리적 측정장비 > 질량/무게/부피/밀도측정장비 > 달리 분류되지 않는 질량/무게/부피/밀도측정장비
2005-02-02
179,000,000원
기관의뢰
고정형
건별
47,000원
시료로부터 발산되는 2차(형광) X선을 검출하여 물질의 정성, 정량 분석을 하는 장비로 정량 및 정성분석을 비파괴적으로 신속하게 분석한다.
X-선 형광분석기는 X-선원으로부터 발생되어 가속된 전자르 시료에 조사하면 각 원소의 안쪽 껍질에 존재하는 전자는 여기된다. 여기된 전자는 상당히 들뜬 상태가 되며, 이를 안정화 시키기 위해 바깥 껍질에 있는 전자가 안쪽 껍질을 채우게 된다. 이 때 각 껍질의 결합에너지에 해당하는 에너지가 방출되는데 이를 특성 X-선 혹은 형광 X-선이라고 한다. 각 원소마다 특성 X-선의 고유한 에너지와 파장을 갖고 있으며, 에너지 값으로 성분원소의 정성 분석이 가능하고 검출한 X-선의 양으로 정량분석을 할 수 있다
▷ 주요구성 및 성능 X-선 발생장치 : 사용전압-60㎸ 사용전류-150㎃ 사용전류-4㎾ 분광기 : 방사형태-상면조사 분석원소 범위-4Be부터 92U 시료 터렛-12 분위기-진공, Air, Helium Mapping System Goniometer Detector : SC-22Ti~92U F-PC 4Be~30Zn 활용분야 ① Cement,aluminium ② Ceramics and Glass ③ Chemicals and Pharma ④ Coal and Coke ⑤ Environment and Waste ⑥ Geoscinces ⑦ Metal(Steel,Brass.....) ⑧ Menerals and Rocks ⑨ Refinery,Plastics and Polymer ⑩ Semiconductor, Coated thickness ⑪ Oil, Mining ⑫ Metal : ferrous ⑬ Metal : Non-ferrous ⑭ Energy industry ⑮ Agriculture