JEOL
JEOL JSM-7401F
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2005-10-25
348,000,000원
고정형
원
특징 1. Resolution : 1.0nm at 15 KV or better, 1.5nm at 1 KV or better 2. Magnification :25 to 1,000,000X or wider, Magnification preset 3. Image modes : SEI(Secondary Electron Image) 4. Accelerating voltage : 0.1 to 30 KV or higher, 0.1 to 2.9KV (10V steps) 5. EDX : 리튬[Li]이하 모든 원소의 정성, 정량분석, Mapping 활용분야 표면구조분석(SEM), 정성/정량분석(EDX) - 포항나노기술집적센터 측정분석그룹은 나노소재ㆍ재료 영역에서 세계 최고수준의 분석장비를 갖추고 각 분야별 전문가들로 구성되어 3차원 토털 분석 서비스를 지원하고 있습니다. 우리는 반도체, 디스플레이, 철강, 에너지 등의 산업분야에서 관련 소재의 원자단위 구조분석과 ppm~ppb 단위 성분분석을 지원하고 있으며 특히 능숙한 pin-point 영역 시편제작 기술을 통해 극 미세 특정영역에서 분석이 가능하도록 시스템을 갖추고 있습니다. 특히 2대의 구면수차보정 전자현미경을 통해 High resolution HREM 분석 뿐 아니라 STEM의 BF, HAADF 이미지 및 나노수준의 EDS, EELS 성분 분석이 서비스되고 있으며, 국내 유일한 3D Atom Probe Tomography 기술을 통하여 구성성분의 3차원적 위치분석 및 ppm 단위 농도분석을 구현하고 있고 또한 최신의 SIMS 분석을 통해 박막, 에너지소재, 철강 등의 ppb 단위 정량분석 서비스를 지원하고 있습니다. 측정분석그룹은 산업체의 불량분석 및 애로기술 지원, 학연의 연구결과 도출 지원 및 양질의 논문을 위한 분석지원에 많은 경험과 노하우를 가지고 있으며 특별히 reverse engineering을 포함하여 특허창출 및 분쟁해결을 위한 기술지원 경험도 보유하고 있어 명실상부한 국내 최고수준의 나노측정분석그룹으로 자리매김 하고 있습니다.
나노재료의 표면 및 형태관찰/ 성분분석 SEI/ BEI/ EDS