MCC
Logic HTOL
10년
주장비
시험
전기·전자장비 > 분석장비 > 달리 분류되지 않는 분석장비
2005-07-20
652,181,530원
기관의뢰
고정형
시간별
4,770원
고온수명시험장비
초기 불량을 유도하는 Burn-in과 달리 HTOL은 제품이 사용조건에서 어느 정도의 수명을 갖는지 평가하기 위한 항목이기 때문에, wear-out failure에 초점을 둔 시험입니다. 따라서 수명시험은 그 결과가 초기불량이나 infant mortality구간에서 발생한 것에 영향을 받지 않도록, 충분히 긴 시간을 두고 진행해야 함
2.1.1 OS : Breez-MZ software
2.1.2 Test temperature : 125 ℃ ~ 150 ℃
2.1.3 Maximum number of input signal : Max 256 I/O
2.1.4 Maximum clock Frequency : 400 MHz
2.1.5 Vector data rate : 10 MHz
2.1.6 Number of monitering(or testing) pins : Max 256 pins.
2.1.7 Read out time : 0.48, 168, 500, 1 K HRS
2.1.8 Vector depth : Max 1 M (optional 4 M)
2.1.1 Up to 256 digital I/O channels per burn-in board.
2.2.2 Tests 256 pins simultaneously.
2.2.3 Memory testing capability including refresh.
2.2.4 1, 2, 4, or 8 pattern zones. 5 programmable voltage regulators per
burn-in board (3 are 40-amp regulators).
2.2.5 Up to 130 amps of programmable power to the devices under test
(5 separate votages, Optional high-power burn-in for devices up to 20 Watts.)
2.2.6 8 analog generators per burn-in board (optional).
2.2.7 Large system capacity of up to 32 burn-in board, Large burn-in boards
with 20.25 inches x 21.5 inches of socket space.
2.2.8 12 vector formats per pin per cycle.
2.2.9 1-nanosecond clock resolution.
2.2.0 2 K real-time error log. 8 sets of timing on the fly.