Seiko
SPA-400
9년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2005-03-07
152,241,330원
기관의뢰
고정형
기타
150,000원
주사전자현미경(Scanning Probe Microscope)은 원자, 분자 수준의 분해능을 갖는 표면 분석 장비로서, 나논 특성 분석에 널리 활용되고 있으며 나노 기술 발전에 큰 이바지를 하였다. SPM은 캔틸레버에 부착된 나노 크기의 바늘이 시료 표면을 근접 접촉하여 시료와 탐침사이에 상호 작용하는 물리량을 측정한다.
전자현미경과는 달리 SPM은 탐침과 시료사이의 원자력, 터널링 전류, 전자기력 등의 근접장을 검출하는 기술로 분석되어진다Resolution X,Y:0.2nm, Z:0.01nm Sample Size D35mm×T10mm Scan Area 20㎛(standard)