피에스아이에이
MICROSCOPE, SCANNING PROBE/XE-150 SYSTEM/Force Sensitivity:10-12N
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2004-11-01
114,000,000원
고정형
기타
원
Contact, Non-contact tip을 통한 film의 topography 및 force-distance curve 측정이 가능합니다.
xy, z축으로 이동이 가능하며 xy 방향으로 100um*100um scan이 가능하며 z방향으로 25um의 scan이 가능.