Shimadzu
SPM-9500J3
10년
부대장비(부가장치) (주장비:)
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
2004-04-14
154,198,650원
직접사용
고정형
건별
30,000원
박막 표면 미세 구조 분석
탐침(probe)을 관찰하고자 하는 시료의 표면에 수 nm대로 근접시켰을 때 탐침부분의 끝 원자와 시료표면의 원자사이에서 발생하는 힘을 이용하여 시료의 표면 또는 물성을 관찰/측정하는 장비로 무기물 시료 (금속, 반도체, 절연체 등), 유기물/고분자 시료의 표면구조 관찰 및 표면의 물성측정을 할 수 있다. (접촉 및 비접촉법)